测试

测试是应用开发不可或缺的一部分。参考 esp-hal 的做法，你可以为应用程序编写和运行直接在硬件上执行的测试。

主机测试

在可行且合理的情况下，应尽量在主机上进行测试，而不是在目标设备上测试。主机测试更容易在 CI 中运行、速度更快，也不会消耗设备的 flash 擦写寿命。对于_必须_在真实硬件上执行的测试，则应采用硬件在环测试环境。

硬件在环测试

硬件在环（HIL）测试是指在测试环境中使用真实设备。我们使用 embedded-test 框架编写单元测试和集成测试，因此整个流程与普通的非嵌入式项目只有少许差异。我们使用 probe-rs 将测试烧录到目标设备并运行（请在 hil-test 子仓库中查看正确的版本）。为此，你必须只使用开发板上的 USB-Serial-JTAG 接口（参阅硬件概览）。如果设备没有这种接口，就需要使用 esp-prog 或其他合适的编程器，并按照连接说明接线（在页面中选择所需芯片）。

使用 esp-generate 时，在 probe-rs 下选择 embedded-test，即可为项目配置测试。设备正确连接后，你只需在本地运行 cargo test。

embedded-test

embedded-test 的测试以带有 #[test] 宏的函数形式编写，类似于 std 测试框架。通常，测试结果由该函数的执行结果决定：如果代码发生 panic，则认为测试失败，并继续运行下一个测试。不过，你可以通过多种方式自定义这个过程，例如使用 #[should_panic] 属性宏，将 panic 视为测试成功的条件，或为测试设置超时等。详情请参阅 embedded-test 文档。由于它模拟了默认的 Rust 测试工具，也支持与 IDE 集成。